Examen de quelques algorithmes de détection de caractéristiques locales

by John Zhang and Tao Sun

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  • ISBN10 6207393597
  • ISBN13 9786207393596
  • Publish Date 17 April 2024
  • Publish Status Active
  • Imprint Editions Notre Savoir
  • Format Paperback (US Trade)
  • Pages 88
  • Language French