Die Akzeptanz mikroelektronischer Systemlosungen in industriellen und privaten Anwendungsbereichen hangt in starkem Masse von der Fehlerfreiheit und Zuverlassigkeit der eingesetzten elektronischen Schaltungen ab. Dies ist durch Verbesserungen in der Fertigung allein nicht mehr zu gewahrleisten. Die Komplexitat heutiger VLSI-Schaltungen hat dabei den Anteil der Testkosten an den gesamten Herstellungskosten eines digitalen Systems in rasanter Weise steigen lassen. Das Buch gibt einen Uberblick uber die Algorithmen, Methoden und Werkzeuge, um diesen Herausforderungen zu begegnen. Die mathematisch exakte Formlierung der Testaufgabe zieht sich dabei als roter Faden durch das ganze Buch,von der Fehlermodellierung bis hin zum testfreundlichen Schaltungsentwurf.
- ISBN10 3540617280
- ISBN13 9783540617280
- Publish Date 17 January 1997
- Publish Status Out of Print
- Out of Print 13 April 2021
- Imprint Springer
- Format Hardcover
- Pages 219
- Language English